图片 | 系列 | 频率范围 (MHz) | 工作温度 (℃) | 频率稳定度 (ppm) | 封装尺寸 (mm) | 封装外形 | 工作电压 (V) | 输出模式 | 材质 | 存储温度范围 (℃) | RoHS | 无铅 | 规格书 |
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XO14 | 0.032768~160.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 -55~+85 -55~+125 | ±10~±100 | 20.80*13.2*5.08 | ~ | +5.0VDC±10% +3.3VDC±10% | TTL/CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO14N | 0.032768~160.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 -55~+85 -55~+125 | ±5~±100 | 20.80*13.2*6.8 | ~ | +5.0VDC±10% +3.3VDC±10% | TTL/CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO08 | 0.032768~160.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 -55~+85 -55~+125 | ±10~±100 | 13.21*13.21 | ~ | +5.0VDC±10% +3.3VDC±10% | TTL/CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO149 | 1.000~70.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 -55~+85 -55~+125 | ±10~±100 | 13.0*9.80*4.7 | ~ | +5.0V±10% +3.3V±10% | TTL/CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO25 | 1.000~200.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 | ±20~±100 | 2.5*2.0*1.0 | ~ | +3.3V +2.5V +1.8V | CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO32 | 1.000~200.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 -40~+125 -55~+85 -55~+125 | ±20~±100 | 3.2*2.5*1.2 | ~ | +3.3V +2.5V +1.8V | CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO53 | 0.032768~125.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 -40~+125 -55~+85 -55~+125 | ±10~±100 | 5.0*3.2*1.0 | ~ | +5.0 +3.3 +2.5 +1.8 | TTL/CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO75 | 0.032768~160.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 -40~+125 -55~+85 -55~+125 | ±10~±100 | 7.0*5.0*2.0 | ~ | +5.0 +3.3 +2.5 +1.8 | TTL/CMOS | ~ | -55~+125 | ||||
XO75P | 0.750~800.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 | ±25~±100 | 7.0*5.0*2.0 | ~ | +3.3VDC±10% +2.5VDC±10% | P:PECL | ~ | -55~+125 | ||||
XO75L | 0.750~800.000 | 0~+50 -10~+60 -20~+70 -40~+85 | ±25~±100 | 7.0*5.0*2.0 | ~ | +3.3VDC±10% +2.5VDC±10% | L:LVDS | ~ | -55~+125 |